principale
Italiano
Strumento e misuratore
Sistema ADR a temperatura costante a bassa temperatura secco mK
Macchina di taglio del vetro di precisione (tipo desktop)
Campionamento laser
LAVIDA Paraxilene Coating Equipment
Macchina di pulizia della macchina per incisione al plasma dual-mode CLONE
Macchina per la pulizia del campione al microscopio elettronico
Sistema di deposizione a strati atomici Prodotti ALD
Macchina litografica a interferenza laser
Sistema integrato di pulizia dell'incisione ionica di reazione al plasma ad alto rendimento COWIN
Analizzatore di granulometria liquida
Stampante 3D ad alta temperatura
Misuratore di particelle liquide - LPC
Incollatrice semiautomatica per wafer
allineamento di prossimità
Scrittura diretta laser senza maschera multifunzionale
Scrittura diretta laser senza maschera
Microscopio elettrico della forza atomica nanoosservatore
Analizzatore ottico di difetti superficiali
Desktop Pro Thin Film Deposition - Magnetron Sputtering
substrato di chip SERS
Sistema di rilevazione spettrale per immagini a fluorescenza catodica
Microscopio elettronico EM-AFM in situ a forza atomica
P17 profilatometro automatico a sonda wafer/misuratore a gradini
NX-HDM microscopio della forza atomica completamente automatico di rilevamento dei difetti
NX Wafer Microscopio della forza atomica completamente automatizzato di ispezione del wafer
Successful operation!
