Accurato eliminando la interferenza dello scannerScansione XY

Circolo chiuso indipendenteScanner flessibili XY e Z

ortogonaleScansione XY

Le informazioni sulla morfologia della superficie del campione sono misurate con precisione senza elaborazione software

Soluzioni complete e professionali per il microscopio a forza atomica

Modalità di scansione per più microscopi a sonda

Più intelligente.Il controller elettronico NX abilita la modalità di misurazione nanomeccanica avanzata per impostazione predefinita

Compatibilità e aggiornabilità all'avanguardia del settore

Funzionalità software e hardware personalizzate

Facile utilizzo aperto per campioni o cambio di ago

Progettazione della pinza della sonda pre-allineata per una facile e intuitiva esecuzioneCalibrazione ottica SLD

Park SmrtScanTM- Il software di manovra del microscopio di forza atomica può aiutare gli utenti iniziali e gli utenti professionali Ricerca professionale a nanoscala.

Nessunorelazioni di accoppiamento.Scanner XY e Z

La tecnologia centrale di Park è l'architettura proprietaria degli scanner. La struttura flessibile basata su scanner XY e Z indipendenti consente di ottenere facilmente dati ad alta risoluzione a nanoscala.

Basso rumore leader del settoreRilevatore Z

Il Park AFM è dotato di un rilevatore Z a basso rumore con livelli di rumore inferiori a 0,02 nm, che consentono di ottenere una precisione di profilografia del campione con un'efficienza elevata che non richiede la taratura senza sovrasferimenti di bordo. La serie Park NX non solo fornisce dati di alta precisione, ma consente anche di risparmiare molto tempo e costi.

da basso rumoreIl rilevatore Z misura con precisione la forma del campione

Utilizzare basso rumoreSegnali del rilevatore Z per l'imaging

con banda larga,Rilevatore Z a basso rumore di soli 0,02 nm

Nessun sovrasferimento frontale o posteriore nella posizione del bordo

Calibrata solo una volta in fabbrica

campioni: 1,2 μm di altezza standard
(9 μm x 1 μm, 2048 pixels x 128 lines)

Parametri di Park NX7

Scanner

Scanner Z

Scanner flessibile ad alta forza di spinta
Scala di scansione Z:15 μm (30 μm opzionale)

Scanner XY

Modulo singolo flessibile a circuito chiusoScanner XY
Scala di scansione:50 µm × 50 µm
(opzionale 10 μm x 10 μm o 100 μm x 100 μm)

Posto di spostamento

Spostamento Z

Gamma di percorso della tavola di spostamento Z: 26 mm

Posto di spostamento XY

Gamma di percorso della tavola di spostamento XY: 13 mm X 13 mm

Scaffale campioni

Dimensioni del campione : up to 50 mm
Spessore del campione:up to 20 mm

Il software

SmartScan

Software di controllo del sistema AFM e acquisizione dati
Configurazione rapida della modalità intelligente e imaging semplice
Utilizzo avanzato della modalità manuale e controllo di scansione più preciso

SmartAnalysis

Software di analisi dei dati AFM
Progettazione indipendentePossibilità di installare e analizzare dati al di fuori dell'AFM
Capace di generare dati raccoltiDisegno 3D