X-METLo spettrometro fluorescente a raggi X portatile 5100 garantisce la precisione dell'analisi di qualità in laboratorio dell'alluminio e delle leghe di titanio, con una sensibilità ineguagliabile alla rilevazione di elementi metallici leggeri contenuti in materiali metallici come rame, nichel e acciaio, e consente di misurare elementi leggeri come magnesio, alluminio e silicio senza l'uso di complesse pompe a vuoto o di apparecchiature accessorie come serbatoi di elio. La potente combinazione di rilevatori a deriva di silicio (SDD), tubi a raggi X da 45 kV e metodi di analisi a coefficiente empirico significaX-METIl 5100 consente di analizzare e determinare con precisione la composizione delle leghe metalliche in soli un secondo. Le sostanze limitate (elementi metallici pesanti), il piombo nei giocattoli, gli inquinanti nel suolo e le trace di sostanze nel minerale possono essere misurate con precisione e velocità che non erano mai possibili prima. In pochi secondi è possibile ottenere i risultati di rilevamento di elementi in traccia a livello di ppm.

Questo robusto strumento portatile di prova di elementi leggeri XRF è progettato appositamente per le seguenti applicazioni industriali:

• Certificazione dell'affidabilità dei materiali metallici (PMI)
• Industria del riciclo dei metalli
• Monitoraggio ambientale dei metalli pesanti (suolo e RoHS)
• Industria aeronautica e automobilistica
• Esplorazione mineraria, controllo di estrazione in loco e cartografia delle miniere